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机械密封中密封端面的平面度怎样检测?-上海克兰机械密封百科分享
日期: 2025年06月11日
平面度(平直度)是密封环很重要的一个质量指标,要求在0.9um 以内。密封端面平面度的检测,通常是利用光波的干涉效应来测量。可以用质量非常高的激光干涉仪或光学平晶来进行测量。前者属非接触量法,后者属接触量法。光学平晶价格便宜,因而被广泛采用。
光波干涉测量法所用的平面平晶是利用派利克斯玻璃、熔凝水晶或折光系数为1.516的光学玻璃制造,使之成为具有平直工作端面的透明圆柱体。所用的光源常采用单色光源,如钠光灯。检测时,将平晶放到被检的密封端面上,斜上方用钠光灯照射检查干涉条纹的数量。
钠光的波长0.589mm,每条干涉带相当于平晶与被测表面间有半个波长的距离。即一条干涉条纹为0.29um,由干涉条纹的数量即可确定密封端面的平面度。

密封百科知识内容选自《实用机械密封技术问答》






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